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Scanners a laser XR3

Escaneamento especializado de longo alcance (XR3) ou bidirecional (XR3-D) para levantamentos de mineração e civis

Maptek

Contato

Escaneamento a laser para captura de longo alcance ou cobertura bidirecional.

Os scanners Maptek XR3 mkII oferecem suporte a fluxos de trabalho especializados de levantamento e monitoramento em grandes ambientes de mineração e civis. Duas configurações estão disponíveis: XR3 para alcance estendido e XR3-D para aquisição bidirecional.

O XR3 mkII captura dados espaciais precisos a distâncias de até 2.800 metros, oferecendo suporte a fluxos de trabalho de monitoramento de longo alcance e levantamentos em grande escala.

O XR3-D mkII captura escaneamentos à frente e atrás a partir de um único posicionamento, entregando até 1.200 m de alcance frontal e 600 m de alcance bidirecional para fluxos de trabalho que se beneficiam de cobertura direcional mais ampla.

Ambos os scanners se integram ao software Maptek para captura, processamento e análise em campo.

XR3 scanner overlooking a vast, red, sandy pit

Visão geral

Aplicações comuns, prioridades operacionais e entregáveis esperados.

Desenvolvido para
Fluxos de trabalho especializados de levantamento

Grandes projetos de mineração e civis que exigem escaneamento de longo alcance, monitoramento repetível e captura confiável de dados espaciais.

Priorize
Captura espacial de longo alcance

Capture dados espaciais a partir de distâncias estendidas quando o posicionamento do scanner é restrito ou o reposicionamento é menos prático.

Permite
Cobertura direcional flexível

Use o XR3-D para coletar dados à frente e atrás a partir de um único posicionamento quando uma cobertura mais ampla melhora a eficiência em campo.

Desenvolvido para captura de levantamentos de longo alcance ou cobertura direcional mais ampla.

O XR3 oferece suporte ao escaneamento preciso de longo alcance a partir de posições fixas. O XR3-D adiciona aquisição à frente e atrás para fluxos de trabalho que exigem cobertura mais ampla a partir de um único scanner.

Scanner a laser XR3
Captura de longo alcance a partir de posições fixas

Capture dados espaciais precisos a partir de locais conhecidos do scanner quando a distância, o acesso ou as condições operacionais tornam o reposicionamento menos prático.

Scanner a laser XR3-D
Cobertura à frente e atrás a partir de uma única configuração

Use o XR3-D para adquirir dados à frente e atrás a partir de um único posicionamento, melhorando a eficiência em fluxos de trabalho que exigem cobertura em várias direções.

Funcionalidades e benefícios

Funcionalidades

  • Reduz o reposicionamento quando a flexibilidade direcional melhora a eficiência
  • Suporta levantamentos repetidos e relatórios consistentes
  • Integra-se às ferramentas Maptek para captura, modelagem e análise

Benefícios

  • Captura precisa de longo alcance a partir de posições fixas
  • Suporte a configurações de monitoramento restritas ou repetíveis
  • Opção bidirecional para cobertura operacional mais ampla

XR3 e XR3-D oferecem suporte a fluxos de trabalho de levantamento e monitoramento de longo alcance em ambientes de mineração e civis.

O XR3 oferece alcance estendido para aplicações de levantamento e monitoramento em grande escala, enquanto o XR3-D oferece suporte à captura de dados à frente e atrás a partir de uma única configuração.

Aplicações comuns

  • Levantamento topográfico de mina a céu aberto e projetos civis
  • Medição de volume de pilhas de estoque ao ar livre
  • Monitoramento de estabilidade e análise de queda de rochas
  • Conformidade e verificação de projeto
  • Análise pré e pós-desmonte
  • Mapeamento geológico e estrutural
  • Avaliação geotécnica e cinemática
  • Estudos de erosão e deformação

XR3

Alcance
2,800 m
Peso
10.1 kg
Precisão
5 mm
Repetibilidade
±4 mm
Extensão de escaneamento vertical
90°
Taxa de aquisição de dados
50 · 100 · 200 · 400 kHz
Recursos
  • Suporte para câmera panorâmica
  • Operação montada em veículo
  • Opção para clima frio disponível

XR3-D

Alcance
1,200 m · 600 m (dual‑window)
Peso
10.3 kg
Precisão
5 mm
Repetibilidade
±4 mm
Extensão de escaneamento vertical
100° · 80° (dual‑window)
Taxa de aquisição de dados
50 · 100 · 200 · 400 kHz
Recursos
  • Suporte para câmera panorâmica
  • Operação montada em veículo
  • Opção para clima frio disponível
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Fale com a Maptek

Entre em contato com a Maptek para conversar sobre os recursos de escaneamento XR3 e XR3-D, as opções de configuração e o suporte para fluxos de trabalho de levantamento e monitoramento de longo alcance.